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2025-11-22
MEMS光開關的高性能依賴于精密的制造工藝,從基板制備到成品檢測,每個環(huán)節(jié)的工藝控制都直接影響產(chǎn)品的最終性能。廣西科毅光通信深知制造工藝的重要性,建立了一套從材料選型到成品出廠的全流程質(zhì)量控制體系,采用先進的MEMS加工技術,確保每一款光開關產(chǎn)品都能滿足客戶的高性能需求。本文將詳細介紹MEMS光開關的核心制造工藝與質(zhì)量控制要點。
MEMS光開關的制造基于SOI基板,采用光刻、刻蝕、鍍覆、犧牲層去除等一系列精密加工工藝,核心步驟如下:
選用高品質(zhì)SOI(絕緣體上硅)基板,基板由第一層(單晶硅,厚度10μm)、中間層(二氧化硅,厚度2μm)、第二層(單晶硅,厚度400μm)構(gòu)成?;宓倪x擇需滿足高平整度、低缺陷密度的要求,通過嚴格的供應商篩選和進貨檢測,確?;遒|(zhì)量符合加工標準。
1. 采用濺射法在SOI基板的第一層表面沉積Cr膜(厚度50nm)和Au膜(厚度500nm),形成多層導體膜;
2. 通過光刻法在導體膜上形成預定的抗蝕劑圖形,該圖形對應可移動接觸導體和第一驅(qū)動電極的形狀;
3. 以抗蝕劑圖形為掩模,對多層導體膜進行刻蝕處理,形成可移動接觸導體和第一驅(qū)動電極,完成核心導電組件的制備。
1. 采用光刻法在基板第一層表面形成規(guī)定的抗蝕劑圖形,掩模覆蓋后續(xù)將形成可移動懸臂、錨定部分和固定件的區(qū)域;
2. 采用離子刻蝕(如Ar離子物理刻蝕)對第一層進行各向異性刻蝕,直到達到中間層(二氧化硅)為止,形成用于隔離各組件的狹槽(寬度2μm),實現(xiàn)可移動部分與固定件的物理分離。
1. 采用等離子體CVD或濺射法,在基板第一層一側(cè)沉積二氧化硅犧牲層(厚度2μm),堵塞之前形成的狹槽,為后續(xù)電極制備提供平整的基底;
2. 通過光刻法和濕刻蝕工藝,在犧牲層上形成凹槽和開口:凹槽對應固定接觸電極的接觸部分(深度1μm),開口用于暴露固定件的連接區(qū)域,為后續(xù)電極連接做準備。

微型開關器件的方法的一些步驟
1. 在犧牲層表面形成用于通電的基底膜(Cr膜50nm+Au膜500nm);
2. 采用光刻法形成掩模,掩模上的開口對應第二驅(qū)動電極和固定接觸電極的形狀;
3. 采用鍍覆法(如電鍍金)在掩模開口暴露的基底膜上生長金屬,形成第二驅(qū)動電極和固定接觸電極(厚度≥5μm);
4. 刻蝕去除掩模和基底膜的暴露部分,完成電極組件的全部制備。
1. 采用濕刻蝕法(使用緩沖氫氟酸BHF)去除犧牲層,暴露可移動懸臂結(jié)構(gòu)和固定電極;
2. 繼續(xù)刻蝕去除可移動懸臂結(jié)構(gòu)下方的部分中間層(二氧化硅),使可移動懸臂結(jié)構(gòu)與基板分離,僅通過錨定部分固定;
3. 采用超臨界干燥法對器件進行干燥處理,避免可移動懸臂結(jié)構(gòu)因表面張力粘接到基板上,確保其彈性變形能力。
1. 通過濕刻蝕去除附著在電極表面的殘留基底膜,提升電極的導電性能;
2. 對器件進行外觀檢測、尺寸測量、性能測試(插入損耗、切換速度、隔離度等),合格產(chǎn)品包裝出廠。


光刻工藝的精度直接決定了電極、狹槽等結(jié)構(gòu)的尺寸精度,是MEMS光開關制造的核心環(huán)節(jié)。廣西科毅光通信采用高精度光刻設備,控制光刻分辨率≤1μm,確保電極寬度、狹槽間距等關鍵尺寸的誤差在±0.1μm以內(nèi)。同時,嚴格控制光刻膠的涂覆厚度、曝光時間、顯影溫度等參數(shù),避免出現(xiàn)圖形畸變、邊緣模糊等問題。
刻蝕工藝包括離子刻蝕和濕刻蝕,需確??涛g深度均勻、側(cè)壁垂直。離子刻蝕過程中,通過控制離子束強度、刻蝕時間,確保第一層單晶硅的刻蝕深度精準達到中間層;濕刻蝕過程中,嚴格控制蝕刻劑濃度、溫度、攪拌速度,避免過度刻蝕或刻蝕不足,確保犧牲層和中間層的去除效果。
固定接觸電極和驅(qū)動電極的鍍覆質(zhì)量直接影響其導電性能和耐磨性。鍍覆過程中,控制鍍液濃度、溫度、電流密度等參數(shù),確保電極厚度均勻(誤差≤0.2μm),表面平整、無針孔、無氧化現(xiàn)象。同時,通過附著力測試、耐磨性測試,確保電極與基底的結(jié)合力強,使用壽命長。
犧牲層去除不徹底會導致可移動懸臂結(jié)構(gòu)無法正常變形,影響開關性能。采用緩沖氫氟酸進行濕刻蝕時,通過控制蝕刻時間和溫度,確保犧牲層完全去除;超臨界干燥法能有效避免可移動結(jié)構(gòu)的粘接問題,干燥過程中控制壓力、溫度的變化速率,確保器件結(jié)構(gòu)穩(wěn)定。
1. 建立合格供應商名錄,對基板、金屬靶材、光刻膠、蝕刻劑等原材料的供應商進行嚴格審核,要求提供質(zhì)量檢測報告;
2. 原材料進貨后,進行外觀檢測、尺寸測量、性能測試(如基板平整度、金屬靶材純度),不合格原材料禁止入庫。
1. 每個制造工序都設置質(zhì)量檢測點,對關鍵參數(shù)進行實時監(jiān)測,如光刻后的圖形尺寸、刻蝕深度、鍍覆厚度等;
2. 采用統(tǒng)計過程控制(SPC)方法,對工藝參數(shù)進行數(shù)據(jù)分析,及時發(fā)現(xiàn)過程波動,采取糾正措施,確保工藝穩(wěn)定性;
3. 操作人員需經(jīng)過專業(yè)培訓和考核,持證上崗,嚴格按照作業(yè)指導書進行操作,避免人為失誤。
1. 外觀檢測:采用顯微鏡對成品進行外觀檢查,確保無破損、污染、電極脫落等問題;
2. 尺寸檢測:使用高精度投影儀、掃描電子顯微鏡(SEM)測量關鍵尺寸,確保符合設計要求;
3. 電性能測試:測試插入損耗、隔離度、切換速度、驅(qū)動電壓、功耗等關鍵電性能參數(shù),確保滿足產(chǎn)品規(guī)格書要求;
4. 環(huán)境可靠性測試:對成品進行高低溫循環(huán)測試(-40℃~85℃)、濕熱測試(40℃,95%RH)、老化測試(1000小時),確保產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的可靠性;
5. 包裝出廠:合格產(chǎn)品采用防靜電包裝,附帶產(chǎn)品檢測報告,確保運輸過程中不受損壞。
為進一步提升產(chǎn)品性能和生產(chǎn)效率,廣西科毅光通信持續(xù)進行制造工藝的創(chuàng)新與升級:
1. 引入高精度原子層沉積(ALD)技術,用于制備壓電膜和絕緣層,提升膜層的均勻性和致密性;
2. 優(yōu)化光刻工藝,采用深紫外光刻(DUV)技術,進一步提高圖形分辨率,適配更小尺寸的光開關設計;
3. 引入自動化生產(chǎn)設備,實現(xiàn)光刻、刻蝕、鍍覆等工序的自動化操作,減少人為干預,提升生產(chǎn)效率和產(chǎn)品一致性。
微型光開關的制造工藝是技術實力的核心體現(xiàn),廣西科毅光通信憑借先進的制造設備、完善的質(zhì)量控制體系和持續(xù)的工藝創(chuàng)新,已實現(xiàn)MEMS光開關的規(guī)?;⒏呔壬a(chǎn)。公司生產(chǎn)的光開關產(chǎn)品不僅性能優(yōu)異,而且質(zhì)量穩(wěn)定,得到了國內(nèi)外客戶的廣泛認可。
擇合適的光開關是一項需要綜合考量技術、性能、成本和供應商實力的工作。希望本指南能為您提供清晰的思路。我們建議您在明確自身需求后,詳細對比關鍵參數(shù),并優(yōu)先選擇像科毅光通信這樣技術扎實、質(zhì)量可靠、服務專業(yè)的合作伙伴。
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