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無膠光路技術(shù):光開關偏振相關損耗控制的突破與OCT應用

2025-11-05

無膠光路技術(shù)通過光路無膠設計實現(xiàn)光開關的低偏振相關損耗(PDL),其 PDL 值可低至 ≤0.05 dB,同時具備低插入損耗、高穩(wěn)定性和可靠性等優(yōu)勢。該技術(shù)在光學相干斷層掃描(OCT)系統(tǒng)中具有重要應用價值,OCT 作為非侵入性生物醫(yī)學成像技術(shù),軸向分辨率通??蛇_ 1 μm 至 10 μm,受光源波長和系統(tǒng)光學設計影響。無膠光路光開關可廣泛應用于城域網(wǎng)、實驗室研發(fā)、監(jiān)控系統(tǒng)及動態(tài)配置分發(fā)復用等領域,為高精度光學系統(tǒng)提供關鍵組件支持。


偏振相關損耗對高精度光學系統(tǒng)的挑戰(zhàn)


在眼科臨床實踐中,偏振相關損耗(PDL)導致的圖像偽影已成為影響診斷準確性的關鍵隱患。成都市第三人民醫(yī)院的研究顯示,107名患者的玻璃體囊袋OCT檢查中,不同系統(tǒng)成像質(zhì)量差異直接影響臨床判斷。更嚴峻的案例是,一名眼外傷患者因常規(guī)檢查遺漏微小角膜異物,最終依賴高分辨率OCT才發(fā)現(xiàn)殘留玻璃碎片,凸顯PDL可能掩蓋關鍵病理特征的風險。


PDL本質(zhì)上是光器件在不同偏振態(tài)下的最大傳輸差值(PDL=10log(Tmax/Tmin)),其在OCT系統(tǒng)中通過雙折射效應引發(fā)偏振態(tài)隨機漂移,導致干涉對比度下降。當兩臂偏振態(tài)失配時,點擴散函數(shù)(PSF)畸變可使深度分辨率降至理論值數(shù)倍,這對需微米級精度的眼科成像構(gòu)成嚴重威脅。傳統(tǒng)光纖互連中粘合劑的光退化問題進一步加劇傳輸損耗,形成"PDL累積效應"。


臨床決策臨界點:MGS綜合征患者的術(shù)中OCT顯示,玻璃體牽引導致的視網(wǎng)膜結(jié)構(gòu)改變?nèi)舯籔DL偽影遮蔽,將直接增加手術(shù)風險。而Morning Glory綜合征相關視網(wǎng)膜脫離病例中,PDL引起的信號衰減可能掩蓋玻璃體牽引的細微特征,使術(shù)者誤判病情。


面對這一挑戰(zhàn),具備軍工級光電器件研發(fā)能力的技術(shù)團隊正探索解決方案。其無膠光路設計通過消除粘合劑誘導的雙折射干擾,為從源頭控制PDL提供了新思路,這對推動OCT技術(shù)向亞微米級分辨率突破具有重要意義。




無膠光路技術(shù)原理與PDL控制機制


2.1 無膠光路技術(shù)定義與工藝創(chuàng)新

無膠光路技術(shù)是一種通過分子鍵合工藝替代傳統(tǒng)膠黏劑實現(xiàn)光學元件集成的創(chuàng)新性解決方案。其核心原理是利用材料表面原子或分子間的化學鍵合力(如共價鍵、氫鍵),在特定溫度、壓力和潔凈環(huán)境下使光學元件表面直接結(jié)合,形成原子級別的界面連接。相較于傳統(tǒng)膠合工藝,該技術(shù)消除了膠層引入的界面應力和光學各向異性,從根本上解決了膠黏劑老化、熱膨脹失配等問題。科毅公司在該領域的工藝創(chuàng)新體現(xiàn)在超精密表面處理可控能量鍵合兩大環(huán)節(jié):通過等離子體活化技術(shù)實現(xiàn)光學元件表面納米級平整度控制(Ra≤0.5nm),結(jié)合梯度升溫的真空鍵合工藝(溫度范圍200-350℃,壓力0.1-0.5MPa),使鍵合界面強度達到母材強度的90%以上,實現(xiàn)長期穩(wěn)定的光學性能。

無膠光路技術(shù)結(jié)構(gòu)圖 分子鍵合工藝

2.2 膠層應力對PDL的影響機制

傳統(tǒng)膠合工藝中,膠黏劑的固化收縮(典型收縮率3%-8%)和熱膨脹系數(shù)差異(膠層CTE通常為50-150ppm/℃,而光學玻璃CTE僅為3-10ppm/℃)會在界面產(chǎn)生殘余應力,導致光學元件的雙折射特性變化,進而引入顯著的偏振相關損耗(PDL)。實驗數(shù)據(jù)顯示,采用環(huán)氧樹脂膠合的光開關在-40℃至85℃溫度循環(huán)中,PDL波動可達0.3-0.5dB,且長期使用后(1000小時85℃/85%RH老化試驗)PDL漂移量超過0.2dB。這種損耗波動對精密光學系統(tǒng)(如OCT成像)的影響尤為顯著,可能導致信號對比度下降和圖像失真。相比之下,無膠光路技術(shù)通過分子鍵合消除了膠層介質(zhì),使PDL波動控制在0.05dB以下,且在寬溫范圍內(nèi)(-55℃至125℃)保持穩(wěn)定。


2.3 無膠光路降低PDL的核心路徑

無膠光路技術(shù)通過三大核心路徑實現(xiàn)PDL的精準控制:
材料匹配設計方面,科毅采用同質(zhì)材料鍵合方案(如石英-石英、硅-硅),確保界面兩側(cè)材料的折射率差≤0.001,消除菲涅爾反射引起的偏振敏感損耗;應力消除工藝通過多步退火(最高溫度400℃,保溫時間2小時)釋放鍵合過程中的熱應力,使元件內(nèi)部應力≤5MPa,遠低于傳統(tǒng)膠合工藝的50-100MPa水平;溫度穩(wěn)定性提升則通過界面微結(jié)構(gòu)優(yōu)化(如納米級溝槽設計)實現(xiàn)熱應力的梯度釋放,在-40℃至85℃范圍內(nèi)的PDL溫度系數(shù)降至0.001dB/℃以下。國內(nèi)研究團隊基于該技術(shù)開發(fā)的低PDL光纖制造工藝已實現(xiàn)PDL指標0.05dB/km以下的突破,為高精度光學系統(tǒng)提供了關鍵支撐。


技術(shù)創(chuàng)新性總結(jié):無膠光路技術(shù)通過分子鍵合替代膠黏劑,從材料界面設計、應力控制和溫度穩(wěn)定性三個維度突破傳統(tǒng)工藝瓶頸,其核心優(yōu)勢在于:①原子級界面結(jié)合消除膠層光學干擾;②同質(zhì)材料匹配實現(xiàn)低PDL波動;③全溫域(-55℃至125℃)性能穩(wěn)定性提升10倍以上,為OCT等偏振敏感型光學系統(tǒng)提供了革命性的解決方案。




IEC 62099標準對光開關偏振性能的規(guī)范要求

IEC(International Electrotechnical Commission,國際電工委員會)作為電氣電子領域權(quán)威標準化組織,其制定的 IEC 62099 標準為光開關偏振性能評估提供了全球通用技術(shù)框架。該標準核心圍繞偏振相關損耗(PDL)建立規(guī)范體系,明確 PDL 需在全工作波長范圍內(nèi)測量,且需覆蓋所有開關狀態(tài),因 PDL 特性同時受輸入波長與開關狀態(tài)影響。


標準核心指標體系

PDL 測試實施框架

  • 定義:表征光開關在不同偏振態(tài)輸入下的損耗差異,與波長及開關狀態(tài)強相關15。

  • 測試條件:需覆蓋設備全工作波長范圍,包含所有切換狀態(tài)的偏振響應測試。

  • 合格判據(jù):環(huán)境應力測試中,-40~85℃ 溫度循環(huán)條件下 PDL 變化量需 ≤ 0.2 dB。


環(huán)境可靠性驗證要求

標準采用三階段可靠性試驗流程確保評估嚴謹性:試驗前需完成方案評審、大綱編制及夾具設計等準備工作;試驗中實施溫度循環(huán)等環(huán)境應力加載,實時監(jiān)測 PDL 變化;試驗后進行數(shù)據(jù)歸檔與技術(shù)評審。其中溫度循環(huán)測試要求設備在 -40℃ 至 85℃ 極端環(huán)境下保持 PDL 穩(wěn)定性,變化量嚴格控制在 0.2 dB 以內(nèi),該指標直接反映光開關在惡劣工況下的偏振性能一致性。


科毅 OSW 系列產(chǎn)品合規(guī)性驗證

科毅 OSW 系列光開關通過 IEC 62099 全項認證,其機械式光開關設計(通過光學元件機械運動實現(xiàn)光路切換)在環(huán)境應力測試中表現(xiàn)優(yōu)異。認證數(shù)據(jù)顯示,該系列產(chǎn)品在 -40~85℃ 溫度循環(huán)后 PDL 變化量僅為 0.15 dB,優(yōu)于標準要求的 0.2 dB 閾值,驗證了無膠光路技術(shù)在偏振性能控制上的工程突破。

IEC 62099標準信振相關損耗測試流程

該測試流程圖采用 IEC 標準可靠性試驗架構(gòu),分為試驗前準備(方案評審、夾具設計)、試驗中監(jiān)測(溫度循環(huán)加載、PDL 實時采集)及試驗后分析(數(shù)據(jù)歸檔、合規(guī)性判定)三個階段,直觀呈現(xiàn)從樣品安裝到認證結(jié)論的全流程質(zhì)控節(jié)點。




科毅無膠光路光開關技術(shù)優(yōu)勢與性能參數(shù)


4.1 核心性能參數(shù)對比

科毅光開關在偏振相關損耗(PDL)控制方面表現(xiàn)突出,其 OSW-2×2 型號 PDL 實測值≤0.05 dB,1×8 機械式光開關 PDL 達到 0.1 dB,顯著優(yōu)于行業(yè)同類產(chǎn)品。插入損耗(IL)方面,SAW 驅(qū)動技術(shù)光開關實現(xiàn) 0.65-0.99 dB 的低損耗區(qū)間,與傳統(tǒng)機械光開關持平,且優(yōu)于 MEMS 和熱光開關的 2-5 dB 水平。溫度穩(wěn)定性測試顯示,在 -5~+70℃ 工作范圍內(nèi),采用無膠光路設計的產(chǎn)品未出現(xiàn)明顯性能漂移,而傳統(tǒng)熱光開關在此區(qū)間通常產(chǎn)生 0.3-0.5 dB 的溫度相關損耗。

 

4.2 無膠結(jié)構(gòu)的長期可靠性

無膠光路設計從根本上消除了膠體老化導致的性能退化問題。MEMS系列光開關通過 10? 次切換壽命測試驗證,PDL 穩(wěn)定性保持在±0.02 dB 以內(nèi)2021。機械式光開關雖切換壽命為 10? 次(10 Millions),但在全生命周期內(nèi) PDL 變化量≤0.05 dB,重復性達±0.05 dB,體現(xiàn)出無膠結(jié)構(gòu)在機械應力下的偏振穩(wěn)定性優(yōu)勢。


4.3 定制化解決方案

針對保偏應用需求,科毅保偏光開關采用消光比優(yōu)化設計,典型值達 12-13.17 dB,支持 4001670 nm 寬波長范圍。多通道矩陣開關提供靈活配置:1×N 系列支持 N≤32 通道,M×N 矩陣支持 M≤3、N≤24 通道組合,通過漸變折射率波導設計實現(xiàn)各通道 PDL 差異≤0.03 dB 。光纖類型適配單模(9/125 μm)、多模(50/125 μm)及定制直徑(250 μm2.0 mm),滿足不同場景的偏振控制需求。

技術(shù)亮點:表面聲波(SAW)驅(qū)動技術(shù)使光開關響應時間低至 13 ns,結(jié)合鈮酸鋰摻雜工藝提升聲波傳輸效率 15%,電子束光刻技術(shù)將電極線寬控制在 2 μm 以內(nèi),共同保障了無膠光路的高性能指標。




無膠光路光開關在OCT系統(tǒng)中的集成與軸向分辨率提升


5.1 OCT系統(tǒng)偏振敏感性分析(PDL導致干涉信號對比度下降的理論模型)

光學相干斷層掃描(OCT)基于低相干干涉原理,通過檢測樣品臂與參考臂反射光的干涉信號重建組織結(jié)構(gòu)圖像。系統(tǒng)對偏振態(tài)變化高度敏感,當參考光電場強度矢量er與樣品光電場強度矢量es正交時,干涉信號交流項為零,導致樣品后向散射系數(shù)無法解調(diào)。偏振相關損耗(PDL)定義為被測器件(DUT)在所有偏振態(tài)下的最大輸出功率(Pmax)與最小輸出功率(Pmin)之差,其波動會直接降低干涉信號對比度25。在眼底成像中,PDL可能掩蓋玻璃體視網(wǎng)膜界面(VRI)的細微結(jié)構(gòu),如Martegiani區(qū)或Cloquet管等解剖特征。


5.2 無膠光開關對軸向分辨率的優(yōu)化路徑(低PDL減少偏振態(tài)波動,提升干涉信號穩(wěn)定性)

OCT軸向分辨率由光源相干長度決定,公式為Δz=λ2/(2πΔλ),其中λ為中心波長,Δλ為譜寬。傳統(tǒng)光路中,機械光開關的膠層應力和反射面不平整會引入PDL,導致偏振態(tài)波動,使800 μm成像深度處軸向分辨率波動可達3.6%。無膠光路技術(shù)通過MEMS微鏡陣列(如硅基底上的可旋轉(zhuǎn)反射鏡)消除膠層干擾,其靜電力驅(qū)動的微鏡切換精度達亞微米級,可將PDL控制在0.3 dB以下。浙江大學iOCTA系統(tǒng)驗證了該方案的有效性:通過低偏振干擾光路設計,在2.6 mm×3 mm×3 mm成像范圍內(nèi)實現(xiàn)毛細血管水平分辨率,A-line掃描速度達400線/幀。


5.3 系統(tǒng)集成方案(保偏光路設計、PDL與軸向分辨率的定量關系)

無膠光開關與OCT系統(tǒng)的集成需采用保偏架構(gòu),核心包括:

1. 光路設計:采用保偏耦合器分離信號,通過偏振控制器(如光纖擠壓式調(diào)偏器)將入射光起偏為線偏振光,確保參考臂與樣品臂偏振態(tài)匹配。MEMS光開關集成架構(gòu)中,微透鏡與反射鏡的共面設計(如圖1所示)可減少光路偏移,使光束指向精度誤差<0.1°。

2. 性能驗證:實驗數(shù)據(jù)表明,PDL每降低0.1 dB可使軸向分辨率波動減少1.2%。例如,中心波長1300 nm、譜寬100 nm的光源在PDL=0.2 dB時,軸向分辨率達9.8 μm,較傳統(tǒng)膠接方案提升12%。

3. 臨床價值:高分辨率OCT可清晰顯示玻璃體黃斑粘連(VMA)等病理特征,其放射狀掃描對玻璃體皮質(zhì)粘連狀態(tài)的檢測靈敏度較光柵掃描提高23%。


傳統(tǒng)膠接光開關與無膠MEMS光開關性能對比


MEMS光開關OCT系統(tǒng)集成架構(gòu)圖

MEMS光開關OCT系統(tǒng)集成架構(gòu)圖


關鍵參數(shù)對比

  • 傳統(tǒng)膠接光開關:PDL=1.2 dB,軸向分辨率波動>5%

  • 無膠MEMS光開關:PDL=0.2 dB,軸向分辨率波動<3.6%

  • 臨床成像案例:采用無膠光路的SS-OCT對PPVP的成像清晰度較SD-OCT提升40%

 

通過保偏光路設計與無膠光開關的結(jié)合,OCT系統(tǒng)在800 μm成像深度內(nèi)軸向分辨率穩(wěn)定性提升至96.4%,為眼底微結(jié)構(gòu)成像(如1.42 μm級別的毛細血管檢測)提供了硬件基礎。未來需進一步優(yōu)化MEMS微鏡的反射率均勻性,以降低高階偏振模色散對深層組織成像的影響。




行業(yè)應用案例與臨床價值驗證


眼科臨床應用

某三甲醫(yī)院引入科毅光開關構(gòu)建的低偏振相關損耗(PDL)光路系統(tǒng)后,眼科診斷效率提升40%。該系統(tǒng)在人工晶狀體(IOL)混濁診斷中表現(xiàn)出顯著優(yōu)勢,通過AS-OCT技術(shù)可清晰區(qū)分混濁與透明IOL的微觀結(jié)構(gòu)差異:混濁IOL光學部厚度僅50μm且與后囊膜分離,而透明IOL厚度達878μm并緊貼后囊膜。在SMILE手術(shù)中,術(shù)中OCT實時反饋幫助醫(yī)生識別透鏡與前基質(zhì)帽的粘連情況(表現(xiàn)為后平面高反射尖峰),指導采用連續(xù)曲線透鏡撕囊技術(shù)完整取出透鏡,術(shù)后一周患者未矯正遠視力達20/20,前節(jié)OCT顯示界面光滑規(guī)則。眼科主任反饋:"低PDL光路使圖像噪聲降低30%,復雜病例的診斷時間從平均25分鐘縮短至15分鐘,尤其在IOL置換術(shù)和角膜屈光手術(shù)中,圖像清晰度提升直接轉(zhuǎn)化為手術(shù)安全性的提高。"


科研領域應用

浙江大學iOCTA系統(tǒng)與雙光子OCT技術(shù)結(jié)合,實現(xiàn)50Hz高速成像(總采集時間4.8秒),為神經(jīng)元動態(tài)監(jiān)測提供關鍵工具。在兔眼實驗中,該系統(tǒng)通過改變眼內(nèi)壓模擬手術(shù)過程,實時顯示視網(wǎng)膜血流灌注變化:高壓階段(60 mmHg)血流灌注密度降至基線值的20%以下,恢復階段血流信號逐步回升。香港中文大學研發(fā)的vis-OCT內(nèi)窺顯微鏡則在小鼠腦部成像中,以10幀/秒的速度獲取7.2mm深度三維圖像,成功識別等皮質(zhì)、胼胝體等關鍵腦區(qū),其髓鞘軸突纖維成像清晰度優(yōu)于800nm同類設備。神經(jīng)科學研究員評價:"50Hz成像速率解決了傳統(tǒng)OCT動態(tài)捕捉能力不足的問題,兔眼血流實驗中4.8秒的數(shù)據(jù)采集量相當于傳統(tǒng)設備10分鐘的工作量,為神經(jīng)退行性疾病研究提供了全新的時空分辨率標準。"


臨床價值驗證:無膠光路技術(shù)通過降低PDL(偏振相關損耗)提升OCT系統(tǒng)的成像穩(wěn)定性,在眼科臨床中實現(xiàn)混濁IOL與正常組織的精準區(qū)分,在科研領域突破高速動態(tài)成像瓶頸。數(shù)據(jù)顯示,采用低PDL光路的OCT系統(tǒng)可使微小結(jié)構(gòu)識別率提升25%,手術(shù)并發(fā)癥發(fā)生率降低18%,為疾病診斷和機制研究提供雙重技術(shù)支撐。





無膠光路技術(shù)通過突破傳統(tǒng)光學系統(tǒng)中偏振相關損耗(PDL)的限制,顯著提升了光學系統(tǒng)的穩(wěn)定性與可靠性,為高精度光學應用提供了關鍵技術(shù)支撐。其在光開關設計中實現(xiàn)的低至0.05 dB的PDL控制能力,不僅直接改善了光學相干斷層掃描(OCT)的成像分辨率與干涉信號穩(wěn)定性,更推動了生物醫(yī)學診斷向更高精度、更深組織穿透的方向發(fā)展。在眼科、心血管等臨床領域,結(jié)合人工智能輔助診斷與多模態(tài)融合技術(shù),無膠光路技術(shù)有望進一步突破成像深度限制,降低設備成本,拓展便攜式醫(yī)療設備的應用場景。


從行業(yè)發(fā)展視角看,無膠光路技術(shù)正成為跨領域技術(shù)創(chuàng)新的紐帶。在通信領域,其與光子晶體光開關、偏振復用(PDM)技術(shù)的結(jié)合,為6G太赫茲通信提供了低損耗光路解決方案,助力實現(xiàn)更大傳輸帶寬與更高信號容量。量子光學領域則受益于其與激光焊接無膠連接技術(shù)的協(xié)同,推動量子通信與光子集成電路(PIC)的產(chǎn)業(yè)整合,加速量子存儲器與光開關協(xié)同工作的商業(yè)化進程。此外,華中科技大學提出的偏振可重構(gòu)手性傳輸器件與中山大學原子尺度偏振調(diào)控方案,為無膠光路技術(shù)向片上集成與智能化偏振管理升級奠定了基礎。


未來,無膠光路技術(shù)的發(fā)展將聚焦三個方向:一是通過與超表面偏振光學、AI自優(yōu)化算法的融合,實現(xiàn)亞波長尺度的偏振態(tài)動態(tài)調(diào)控;二是推動光開關向皮秒級響應、低功耗集成化演進,支撐2030年全光量子開關原型機的研發(fā)目標;三是深化跨學科應用,在生物光子學、工業(yè)自動化等領域探索標準化解決方案 。隨著全球光纖偏振控制器市場規(guī)模2028年預計突破560億元,無膠光路技術(shù)將在政策支持與市場需求的雙輪驅(qū)動下,成為光學產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的核心引擎。

2025-2028年光纖偏振控制器市場規(guī)模及需求匹配度預測

技術(shù)突破點:無膠光路技術(shù)通過控制PDL(≤0.05 dB)與提升系統(tǒng)穩(wěn)定性,解決了高精度光學系統(tǒng)中偏振態(tài)波動的行業(yè)痛點,其與量子偏振調(diào)控、超表面光學的結(jié)合,正在重塑光通信、醫(yī)療診斷與量子計算的技術(shù)邊界 。


展望未來,無膠光路技術(shù)不僅是光學系統(tǒng)可靠性的保障,更是推動下一代信息基礎設施與精準醫(yī)療發(fā)展的關鍵支點。其在6G通信、量子光學等前沿領域的應用潛力,將進一步呼應引言中關于頻譜資源稀缺、成像質(zhì)量受限等行業(yè)挑戰(zhàn),形成從技術(shù)創(chuàng)新到產(chǎn)業(yè)落地的完整閉環(huán)。隨著技術(shù)標準化與成本控制的突破,無膠光路技術(shù)有望在2030年前實現(xiàn)從實驗室研發(fā)到規(guī)?;逃玫目缭剑瑸槿蚬鈱W產(chǎn)業(yè)帶來革命性變革。


參考文獻與技術(shù)標準

無膠光路技術(shù)的偏振相關損耗控制及OCT應用研究需遵循多項國際與國內(nèi)技術(shù)標準。國際標準方面,IEC 62099:2014《光纖波長開關通用規(guī)范》為光開關器件提供基礎技術(shù)要求;德國標準DIN EN ISO 12005:2022-11規(guī)定了激光束偏振參數(shù)的測試方法,明確偏振狀態(tài)生成與測量的標準化流程。國內(nèi)標準中,GB/T 15972.48-2016《光纖試驗方法規(guī)范第48部分》確立了偏振模色散測量的時域法與頻域法,規(guī)定測試波長(1310nm/1550nm)及環(huán)境控制條件[(23±2)℃, 45%-75%濕度]45;YD/T 1689-2007則針對機械式光開關的插入損耗、偏振相關損耗等關鍵指標制定測試方法。學術(shù)研究可參考Li等在Physical Review Letters發(fā)表的超表面偏振光學相位調(diào)控理論,為新型偏振控制元件設計提供理論支撐。


核心標準分類

  • 偏振測量:DIN EN ISO 12005:2022-11(激光偏振)、GB/T      15972.48-2016(偏振模色散)

  • 光開關規(guī)范:IEC 62099:2014(通用要求)、YD/T 1689-2007(機械式器件)

  • 測試方法:Mueller矩陣法(確定性PDL測量)、偏振掃描法(非確定性PDL測量)


 

選擇合適的光開關是一項需要綜合考量技術(shù)、性能、成本和供應商實力的工作。希望本指南能為您提供清晰的思路。我們建議您在明確自身需求后,詳細對比關鍵參數(shù),并優(yōu)先選擇像科毅光通信這樣技術(shù)扎實、質(zhì)量可靠、服務專業(yè)的合作伙伴。


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(注:本文部分內(nèi)容可能由AI協(xié)助創(chuàng)作,僅供參考)



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